靶材料杂质影响新谱线产生的实验验证

• 作者: 王大伦 秦建国 赖财锋
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 物理学
• 关键词: 靶材料 杂质 特征谱线 氢气放电
• 年，卷（期）: 2008,（6）
• 所属期刊栏目: ICF与激光等离子体
• 页码范围: 961-964
• 页数: 4页
• 分类号: O461.1
• 字数: 3467字
• 语种: 中文

摘要

为了验证氢气放电源打靶产生的新谱线不是靶杂质的特征谱线,完成了5项检验实验.其中屏蔽实验和强电子辐照靶的实验证实了新谱线不是来自放电室中的杂质形成的;靶的打磨实验表明靶表面的污染杂质也不能产生新谱线,形成共振峰的实验和新谱线强度随放电电压变化规律的实验结果都证明靶的总杂质不影响新谱线的测量.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王大伦	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	17	43	4.0	6.0
2	秦建国	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	13	30	3.0	5.0
3	赖财锋	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	14	31	3.0	5.0