双层约束下基于局部和全局信息的图像插值新模型

• 作者: 仵冀颖 阮秋琦
• 来源期刊: 电子与信息学报
• 学科: 工学
• 关键词: 图像插值 偏微分方程 非局部均值 双层约束
• 年，卷（期）: 2008,（1）
• 所属期刊栏目: 论文
• 页码范围: 144-148
• 页数: 5页
• 分类号: TN911.73
• 字数: 4755字
• 语种: 中文

摘要

该文提出一种双层约束的图像插值模型,模型在原始未插值图像梯度模约束下同时基于局部和全局信息处理.使用偏微分方程处理边缘像素,锐化边缘同时平滑边缘块状效应;平滑区域像素点的插值操作使用非局部均值模型,非局部均值模型通过对原始图像全局信息加权平均得到待处理图像像素值,图像平滑.使用双层约束模型处理纹理图像可以保持纹理特征,平滑纹理部分线形特征位置的块状效应.最后理论和实验结果证明使用双层控制模型可以直接将噪声图像插值放大.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	仵冀颖	北京交通大学信息科学研究所	9	137	8.0	9.0
2	阮秋琦	北京交通大学信息科学研究所	105	1445	20.0	32.0