模拟电路可测性问题分析

• 作者: 牛宏亮
• 来源期刊: 科技信息
• 学科: 工学
• 关键词: 模拟电路 故障诊断 可测性
• 年，卷（期）: 2008,（27）
• 所属期刊栏目: 职校论坛1
• 页码范围: 229
• 页数: 1页
• 分类号: TP3
• 字数: 2163字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-9960.2008.27.196

摘要

为解决含大量不可测节点电路的测试问题及大规模电路测试成本过高的问题,本文分析了电路的可测拓扑结构和可测拓扑条件,提出了模拟电路可测性问题分析.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	牛宏亮		6	2	1.0	1.0