工艺波动致RLC互连延时极值分析

• 作者: 李建伟 杨银堂 王增 董刚
• 来源期刊: 西安电子科技大学学报(自然科学版)
• 学科: 工学
• 关键词: 工艺波动 RLC互连延时 工艺角
• 年，卷（期）: 2009,（2）
• 页码范围: 301-307
• 页数: 7页
• 分类号: TN405.97
• 字数: 2807字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-2400.2009.02.023

摘要

基于等效Elmore延时模型和RLC互连的工艺角分析,提出了工艺波动致RLC互连延时快速极值分析方法,可以用于由工艺波动引起的RLC互连延时变化的最好情况和最坏情况分析.采用该方法针对68 nm,45 nm,36 nm和25 nm工艺节点进行了仿真验证.结果显示,这种新方法误差小速度快,与HSPICE相比误差小于7%,可以应用在快速静态时序分析中.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨银堂	西安电子科技大学宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室	420	2932	23.0	32.0
2	董刚	西安电子科技大学宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室	36	121	7.0	9.0
3	李建伟	西安电子科技大学宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室	6	8	2.0	2.0
4	王增	西安电子科技大学宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室	5	8	2.0	2.0