考虑电感效应和工艺波动影响的互连延时建模与计算

• 作者: 冷鹏 杨杨 杨银堂 柴常春 董刚
• 来源期刊: 西安电子科技大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 电感 工艺波动 互连延时 统计模型
• 年，卷（期）: 2010,（3）
• 页码范围: 513-519
• 分类号: TN405.97
• 字数: 4571字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-2400.2010.03.023

摘要

基于改进的RLC互连树等效Elmore延时模型,建立了考虑电感效应和工艺波动影响的互连延时统计模型,并推导出计算互连延时均值与标准差的计算公式.计算结果表明,与目前广泛应用的Monte Carlo分析方法相比,采用新模型计算得到的RLC互连延时均值误差低于1.27%,标准差误差则低于5.23%,而且计算耗时仅为1 000次以上Monte Carlo分析的0.01%.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨银堂	西安电子科技大学宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室	420	2932	23.0	32.0
2	董刚	西安电子科技大学宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室	36	121	7.0	9.0
3	柴常春	西安电子科技大学宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室	80	592	15.0	19.0
4	冷鹏	西安电子科技大学宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室	7	59	3.0	7.0
5	杨杨	西安电子科技大学宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室	4	28	2.0	4.0