考虑工艺波动的PLC互连延时统计模型

• 作者: 张显 杨虎 阎丽
• 来源期刊: 信息与电子工程
• 学科: 工学
• 关键词: 工艺波动 互连延时 统计模型 RLC电路 对数正态分布
• 年，卷（期）: 2009,（6）
• 所属期刊栏目: 微光机电与物理电子技术
• 页码范围: 584-588
• 页数: 5页
• 分类号: TN405.97
• 字数: 2717字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-2892.2009.06.021

摘要

基于概率解释算法的原理,提出了一种考虑32艺波动的RLC互连延时统计模型,该模型使用了对数正态分布函数.在给定互连参数波动范围条件下,利用该算法计算延时仅需要采用前两个瞬态.和HSPICE相比,Monte Carlo分析中的均值和平均偏差误差分别低于0.7%和0.51%.模型计算简单且精度高,可以满足互连线仿真要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张显	西安电子科技大学技术物理学院	12	79	4.0	8.0
2	阎丽	西安电子科技大学技术物理学院	3	3	1.0	1.0
3	杨虎	西安电子科技大学技术物理学院	2	1	1.0	1.0