基于边缘扫描技术的PCB测试节点优化设计

• 作者: 谢永乐 陈光 雷勇
• 来源期刊: 电子测量与仪器学报
• 学科: 工学
• 关键词: 边缘扫描技术 IC测试模式 PCB测试模式
• 年，卷（期）: 2009,（10）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 80-84
• 页数: 5页
• 分类号: TM93
• 字数: 1726字
• 语种: 中文

摘要

介绍了一种可用于PCB测试的方法.边缘扫描技术是一种先进的数字电路测试技术,可广泛应用于大规模集成电路的测试.本文详细介绍了边缘扫描技术的测试电路结构及其工作模式,并将其应用于PCB的测试,本文利用基于贪婪策略的最优化算法分析了PCB的测试节点,可以利用最小的测试节点集实现PCB的测试.实际应用电路的分析结果表明,本文介绍的PCB测试方法,可以有效地降低PCB级测试的硬件开销.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谢永乐	电子科技大学自动化学院	73	549	12.0	20.0
2	陈光	电子科技大学自动化学院	11	94	6.0	9.0
3	雷勇	电子科技大学自动化学院	5	183	4.0	5.0