容差条件下PSO算法诊断模拟电路单软故障方法

• 作者: 周龙甫 师奕兵 李焱骏
• 来源期刊: 计算机辅助设计与图形学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 模拟电路 故障诊断 微粒群算法 灵敏度 线性规划
• 年，卷（期）: 2009,（9）
• 所属期刊栏目: VLSI设计与测试及电子设计自动化
• 页码范围: 1270-1274
• 页数: 5页
• 分类号: TP306+.3
• 字数: 3903字
• 语种: 中文

摘要

为了定量地诊断模拟电路中的单个软故障,提出一种容差条件下基于微粒群优化理论的诊断方法.首先通过灵敏度分析建立电路测试节点电压增量方程,以及模拟电路故障诊断的约束线性规划方程组;然后引入罚甬数,把微粒群算法应用到方程的求解中;最后估计出电路各元件参数的最小变化量,并与各元件容差范围相比较来定位故障元件.仿真实验结果表明.该方法兼顾故障元件的定位和故障元件参数变化量的估计,可以有效地实现模拟电路在容差条件下的软故障定量诊断.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	师奕兵	电子科技大学自动化工程学院	153	1324	19.0	27.0
2	李焱骏	电子科技大学自动化工程学院	15	156	6.0	12.0