HDI微盲孔缺陷新的检测功能

• 作者: 翟硕
• 来源期刊: 印制电路信息
• 学科: 工学
• 关键词: 测试方法 盲孔缺陷
• 年，卷（期）: 2009,（5）
• 所属期刊栏目: 检验与测试
• 页码范围: 54-57
• 页数: 4页
• 分类号: TN41
• 字数: 3820字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-0096.2009.05.014

摘要

文章列举了一种新型的检测方法-AEI测试方法,它能够实实在在地降低测试遗漏的风险或潜在的失效.该方法在整个制造过程中是放在传统的电测试之前的,它能够提高实时过程的控制进而降低缺陷板的生产,该方法适用于所有HDI的制造过程.