结型场效应晶体管低频噪声测试方法研究

• 作者: 包军林 崔莹
• 来源期刊: 信息技术与标准化
• 关键词: 结型场效应晶体管 低频噪声 等效输入噪声电压 噪声系数
• 年，卷（期）: 2009,（10）
• 所属期刊栏目: 电子元器件
• 页码范围: 27-30
• 页数: 4页
• 字数: 2229字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-539X.2009.10.010

摘要

在深入研究JFET低频噪声特性及产生机理的基础上,提出了一种通过测试宽频带功率谱密度得到其规定频率处等效输入噪声电压功率谱密度和噪声系数的测试方法,并给出了低频噪声测试的偏置电路、测试设备和测试方法.结合3DJ4和3DJ6型JFET器件的测试结果表明,采用本文提出的方法可适用于JFET盯的低频噪声的测试.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	包军林		43	306	10.0	16.0
2	崔莹		7	7	1.0	2.0