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摘要:
为了解决隧穿场效应晶体管(TFET)在强反型区表面势和漏电流精度下降的问题,建立了一种考虑可移动电荷影响的双栅TFET电流模型.首先求解考虑可移动电荷贡献的二维电势泊松方程,推导出表面势、电场的解析表达式;然后利用求得的电场表达式和Kane模型得到载流子的隧穿产生率;最后利用切线近似法计算隧穿产生率在隧穿区域的积分,建立了漏电流的简洁解析模型.利用器件数值仿真软件Sentaurus在不同器件参数下对所建模型进行了验证,仿真结果表明:考虑可移动电荷的影响能够提高强反型区漏电流模型的精度;在相同器件参数条件下,考虑可移动电荷的模型比忽略可移动电荷的模型精度提高了20%以上.
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文献信息
篇名 考虑可移动电荷的双栅隧穿场效应晶体管电流模型
来源期刊 西安交通大学学报 学科
关键词 隧穿场效应晶体管 可移动电荷 表面势 漏电流 解析模型
年,卷(期) 2016,(8) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 38-44
页数 7页 分类号 TN386.6
字数 语种 中文
DOI 10.7652/xjtuxb201608007
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 李尊朝 西安交通大学电子与信息工程学院 31 275 8.0 16.0
2 孟庆之 西安交通大学电子与信息工程学院 2 2 1.0 1.0
3 关云鹤 西安交通大学电子与信息工程学院 2 2 1.0 1.0
4 张也非 西安交通大学电子与信息工程学院 2 2 1.0 1.0
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隧穿场效应晶体管
可移动电荷
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解析模型
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西安交通大学学报
月刊
0253-987X
61-1069/T
大16开
1960-01-01
chi
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