CAF失效分析方法探讨

• 作者: 严泽军 张盘新
• 来源期刊: 印制电路信息
• 学科: 工学
• 关键词: CAF导电阳极丝 垂直切片 水平切片 SEM EDS
• 年，卷（期）: 2009,（z1）
• 页码范围: 505-507
• 分类号: TN41
• 字数: 1717字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-0096.2009.z1.073

摘要

电子产品的高密度、小型化使得由印制线路板产生的CAF现象成为影响产品可靠性的一个重要因素.本文介绍了利用实验室手段寻找CAF失效点的方法,找出失效原因,以帮助PCB生产商改进工艺,提高产品可靠性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张盘新		2	4	1.0	2.0
2	严泽军		1	4	1.0	1.0