扫描探针显微镜对光盘表面的探测及分析

• 来源期刊: 实验科学与技术
• 学科: 物理学
• 关键词: 原子力显微镜 微悬臂 扫描探针显微镜 定标 粗糙度
• 年，卷（期）: 2009,（4）
• 所属期刊栏目: 实验技术
• 页码范围: 21-22,62
• 页数: 3页
• 分类号: O4-33
• 字数: 1432字
• 语种: 中文

摘要

以STM和AFM为基础的SPM是国际上近年发展起来的表面分析仪器,它可以对样品表面的物理特性在原子级分辨率的水平上进行探测.文章通过HL-Ⅱ型扫描探针显微镜的AFM功能对光盘表面形貌进行了扫描和分析,从而获得了更深层次的信息.