基于最佳交换递减的芯核测试链平衡划分

• 作者: 易茂祥 梁华国 陈田
• 来源期刊: 电子测量与仪器学报
• 学科: 工学
• 关键词: 芯核 测试链 平衡划分 最佳交换递减 测试应用时间
• 年，卷（期）: 2009,（4）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 97-102
• 页数: 6页
• 分类号: TN407
• 字数: 4565字
• 语种: 中文

摘要

满足TAM宽度约束的芯核测试链平衡划分,可以降低SoC测试应用时间和存储开销.针对测试链平衡划分问题,建议了一种改进的求解方案.建议方案首先应用LPT算法得到初始解,然后通过迭代技术,从当前配置中选取二条测试链.应用提出的最佳交换递减算法对其内部相关的一对单元实施最佳交换,从而快速平衡测试链.将建议方案用于ITC'02基准电路芯核的测试链平衡划分.实验结果表明,与现有技术比较,建议方案可以产生更平衡的测试链划分,从而有效地降低芯核测试应用时间.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	梁华国	合肥工业大学计算机与信息学院	192	1611	19.0	30.0
2	易茂祥	合肥工业大学计算机与信息学院	109	559	12.0	19.0
3	陈田	合肥工业大学计算机与信息学院	18	99	7.0	9.0