数字芯片ADC模块的常见失效分析

• 作者: 张磊
• 来源期刊: 电子测试
• 学科: 工学
• 关键词: ADC 偏置 增益 失效
• 年，卷（期）: 2009,（3）
• 所属期刊栏目: 测试工具与解决方案
• 页码范围: 83-85
• 页数: 3页
• 分类号: TN792
• 字数: 639字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8519.2009.03.022

摘要

本文简单介绍了数字芯片ADC(模数转换)模块,并以精度为3位ADC为例,针对其常见的失效模式进行了分析.特别针对零刻度误差,满量程误差,增益误差,微分非线性误差,代码缺失误差做了分析,指出每种误差产生的原因,给ADC带来的影响,并提出了减少误差的基本方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张磊		37	58	4.0	7.0