基于界面材料损伤的晶体管辐射噪声表征模型

• 作者: 何亮 张雪 杜磊 陈伟华
• 来源期刊: 电子科技
• 学科: 工学
• 关键词: 晶体管 辐照损伤 缺陷 1/f噪声模型
• 年，卷（期）: 2009,（6）
• 所属期刊栏目: 光电·材料
• 页码范围: 75-77
• 页数: 3页
• 分类号: TN305
• 字数: 2558字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-7820.2009.06.022

摘要

在双极晶体管界面材料辐照损伤机理及缺陷产生微观机制分析的基础上,结合缺陷与电参量及1/f噪声参量之间的关系,建立了辐照损伤的1/f噪声模型.通过讨论噪声与晶体管可靠性之间的关系,探讨所建立的噪声模型用于双极晶体管辐射表征的方法的可靠性.结果表明此方法为晶体管的可靠性筛选,提供了理论依据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杜磊	西安电子科技大学技术物理学院	99	486	13.0	18.0
2	何亮	西安电子科技大学技术物理学院	36	212	7.0	14.0
3	陈伟华	西安电子科技大学技术物理学院	6	58	3.0	6.0
4	张雪	西安电子科技大学技术物理学院	2	38	2.0	2.0