工艺参数扰动下互连线时延的随机点匹配评估算法

• 作者: Janet M. Wang 唐卫清 李鑫
• 来源期刊: 物理学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 工艺参数扰动 随机互连模型 随机点匹配方法 多项式混沌理论
• 年，卷（期）: 2009,（6）
• 所属期刊栏目: 总论
• 页码范围: 3603-3610
• 页数: 8页
• 分类号: O4
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-3290.2009.06.002

摘要

提出了一种基于工艺参数扰动的随机点匹配时延评估算法.该算法通过Cholesky分解将具有强相关性的工艺随机扰动转化为独立随机变量,并结合随机点匹配方法和多项式混沌理论对耦合随机互连线模型进行时延分析.最后,利用数值计算方法给出互连时延的有限维表达式.仿真实验结果表明,该算法与HSPICE仿真时延的相对误差不超过2%,且相比于HSPICE显著降低了电路模拟时间.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	唐卫清	中国科学院计算技术研究所	54	527	11.0	20.0
2	李鑫	南京理工大学计算机科学与技术学院	20	70	6.0	7.0