基于独立分量分析的缺陷信号串扰消除

• 作者: 何辅云 查君君
• 来源期刊: 无损检测
• 学科: 工学
• 关键词: 独立分量分析 定点算法 漏磁检测 缺陷信号 串扰消除
• 年，卷（期）: 2010,（5）
• 页码范围: 328-331
• 页数: 4页
• 分类号: TG115.28|TN911.72
• 语种: 中文

摘要

漏磁检测设备中纵向传感器阵列特殊的物理结构,使得采集的缺陷信号之间不可避免地产生串扰,因而降低了检测设备的可靠性.结合采集信号的阵列特性,通过使用基于独立分量分析(ICA)的阵列信号处理方法,分离出各路消除串扰的源信号.仿真试验结果表明,ICA的定点算法可以消除信号之间的串扰,满足检测设备要求,具有较大的应用潜能.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	何辅云		53	513	14.0	20.0
2	查君君		14	56	3.0	7.0