临近空间大气中子诱发电子器件单粒子翻转数值仿真研究

• 作者: 张振力 张振龙 蔡明辉 韩建伟
• 来源期刊: 航天器环境工程
• 学科: 数学
• 关键词: 单粒子翻转 临近空间 中子能谱 翻转截面 翻转率
• 年，卷（期）: 2010,（4）
• 页码范围: 420-423
• 页数: 4页
• 分类号: O242|V520
• 字数: 2469字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-1379.2010.04.003

摘要

大气中子作为临近空间主要的辐射粒子,能够诱发电子器件发生单粒子翻转效应,严重威胁着临近空间飞行器安全、可靠地工作.文章研究了临近空间大气中子在不同时间、经度、纬度、高度下的能谱,计算了静态存储器(SRAM)中的IMS1601芯片在不同能量各向同性的中子入射下的翻转截面,在国内首次计算出任意两个临近空间位置上飞行器的IMS1601芯片的翻转率,并且对计算结果进行了验证.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蔡明辉	中国科学院空间科学与应用研究中心	29	108	7.0	9.0
2	韩建伟	中国科学院空间科学与应用研究中心	90	549	14.0	18.0
3	张振龙	中国科学院空间科学与应用研究中心	35	275	10.0	15.0