LCMO,LSMO单、双层薄膜的制备和电学性质

• 作者: 何光旭 张孝青 朱明 陈立立
• 来源期刊: 东南大学学报（自然科学版）
• 学科: 物理学
• 关键词: 脉冲激光沉积法 异质结 整流
• 年，卷（期）: 2010,（1）
• 页码范围: 218-222
• 页数: 5页
• 分类号: O469
• 字数: 3464字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-0505.2010.01.041

摘要

采用脉冲激光沉积法在Si衬底上沉积La_(1-x)Ca_xMnO_3,La_(1-x) Sr_xMnO_3(x=0.2,0.5,0.8)单钙钛矿锰氧化物单层膜和双层膜.采用LCR仪等分析测试手段研究了薄膜异质结的电流-电压特性.I-V特性曲线表明:单钙钛矿La_(1-x)Ca_xMnO_3/Si和La_(1-x)Ca_xMnO_3/Si均表现出了与传统p-n结相似的整流特性,但是La_(1-x)Ca_xMnO_3/Si的整流特性要明显优于La_(1-x)>Sr_xMnO_3/Si,这可能是因为La_(1-x)Ca_xMnO_3同衬底晶格常数更为匹配且Sr掺杂引起的晶格畸变场势阱更深的缘故.在双层膜结构中可能是由于能带结构的原因,按La_(1-x)Sr_xMnO_3/La_(1-x)Ca_xMnO_3/Si顺序排列的异质结相当于P~+-p-n结构,I-V特性明显类似传统的整流特性,而La_(1-x)Ca_xMnO_3/La_(1-x)Sr_xMnO_3/Si顺序的异质结相当于n-p-n型,整流特性不明显.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	朱明	东南大学物理系	25	131	6.0	10.0
2	何光旭	东南大学物理系	3	3	1.0	1.0
3	张孝青	东南大学物理系	3	1	1.0	1.0
4	陈立立	东南大学物理系	3	1	1.0	1.0