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安捷伦发力半导体测试全新SMU瞄准新兴市场
安捷伦发力半导体测试全新SMU瞄准新兴市场
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摘要：
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基于ARM的半导体分立器件测试主机系统总线
ARM
S3C44BO
测试主机系统总线
半导体分立器件测试系统
半导体激光器老化测试智能控制系统
半导体激光器
老化
筛选
驱动电路
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优化设计
构成智能城市的半导体
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半导体集成电路可靠性测试及数据处理方法分析研究
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文献信息
| 篇名 | 安捷伦发力半导体测试全新SMU瞄准新兴市场 | ||
| 来源期刊 | 中国电子商情·基础电子 | 学科 | 工学 |
| 关键词 | |||
| 年，卷（期） | 2011,（6） | 所属期刊栏目 | 技术前沿 |
| 研究方向 | 页码范围 | 32-33 | |
| 页数 | 分类号 | TN307 | |
| 字数 | 1942字 | 语种 | 中文 |
| DOI | |||
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