电子设备可靠性的加速试验

• 作者: 刘承禹 张秋菊
• 来源期刊: 光电技术应用
• 学科: 工学
• 关键词: 可靠性加速试验 高加速寿命试验 高加速应力筛选试验
• 年，卷（期）: 2011,（4）
• 所属期刊栏目: 测试、试验与仿真
• 页码范围: 81-85
• 分类号: TN206|TB114.3
• 字数: 6251字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-1255.2011.04.021

摘要

简要介绍了可靠性加速试验基本原理和一般流程，以及可靠性试验技术形成和发展。提出了可靠性加速试验的实施规划，并重点阐述了可靠性加速试验中的高加速寿命试验（HALT）和高加速应力筛选试验（HASS）的相关内容，详细介绍了两者的区别和实施方法。针对试验应力类型选择、试验层次和试验条件的确定等方面进行了说明，给出了基本应用原则。最后就开展可靠性加速试验中专业人员协同工作以及数据库建立给出了一些建议。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张秋菊		6	101	5.0	6.0
2	刘承禹		3	7	2.0	2.0