通用Toffoli可逆门的固定故障测试

• 作者: 刘云辉 吕娜娜 谭涵月
• 来源期刊: 电子质量
• 关键词: Toffoli门 固定故障测试 可逆电路
• 年，卷（期）: 2011,（12）
• 所属期刊栏目: 认证与实验室
• 页码范围: 57-61
• 分类号: O157.5
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2011.12.042

摘要

可逆电路技术在低功耗芯片和量子通信中广泛使用。目前,大部分学者着重研究可逆电路的合成,对电路的故障测试却很少问津,但是可逆电路的测试在应用中却十分重要。文中构造了一种四输入通用Toffoli门（universal toffoli gate,UTG）用来检测电路故障,这个门可以实现所有基本的布尔逻辑。UTG门可以检测到所有的单一固定故障并且能够获得一个最小测试向量集。使用该文提出的UTG门可实现所有复杂的可逆电路并且能够测试所有单一固定故障。实验结果表明,与其他测试方法相比,使用UTG门的量子消耗和测试向量都是之和是最小的。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘云辉	重庆邮电大学光电工程学院	1	0	0.0	0.0
2	谭涵月	重庆邮电大学光电工程学院	1	0	0.0	0.0
3	吕娜娜	重庆邮电大学光电工程学院	2	3	1.0	1.0