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摘要:
中国科学院微电子研究所IGBT团队在高压高功率IGBT(绝缘栅双极晶体管)研制方面,继上半年1700V系列之后,近期在6500V系列超高压领域再次取得关键技术突破。由微电子所完全自主设计的6500VTrenchFSIGBT(沟槽栅场截止型)产品,在国际知名晶圆代工厂华虹NEC8寸制造工艺平台上首轮流片顺利完成,测试结果显示阻断电压达7100V以上,符合原定设计目标。该阶段性成果标志着微电子所IGBT研制方面迈上新的高度,我国自主IGBT芯片从设计到工艺的整体贯通又上了一个新的台阶。
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NPN双极晶体管
60Coγ辐照
ELDRS
退火
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 微电子所6500V超高压绝缘栅双极晶体管研制取得突破
来源期刊 功能材料信息 学科 工学
关键词 绝缘栅双极晶体管 超高压 微电子 功率IGBT 制取 自主设计 制造工艺 电子研究所
年,卷(期) gnclxx_2011,(4) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 54-55
页数 2页 分类号 TN322.8
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研究主题发展历程
节点文献
绝缘栅双极晶体管
超高压
微电子
功率IGBT
制取
自主设计
制造工艺
电子研究所
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
功能材料信息
双月刊
32开
重庆市北碚区蔡家岗镇嘉德大道8号
2004
chi
出版文献量(篇)
7130
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19
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