石墨烯晶体管转移特性对栅压的依赖现象研究

• 作者: 周金浩 张庆伟 曾荣周 李平 王刚 王恒
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 石墨烯晶体管 转移特性 狄拉克点 迟滞效应
• 年，卷（期）: 2017,（6）
• 页码范围: 36-39
• 页数: 4页
• 分类号: TN312
• 语种: 中文

摘要

为了研究石墨烯场效应晶体管的不同测试方法,对其转移特性的影响,在栅压为0～5 V之间扫描的情况下,研究了石墨烯晶体管的狄拉克点变化规律.其变化呈现以下特点:连续地正向扫描或反向扫描时,随着次数的增加,狄拉克点电压逐渐变大;先加栅压保持一段时间后,再测转移特性,0V保持时,狄拉克点电压不变,5V保持时,狄拉克点电压变大;测试之间相互独立时,正向扫描的狄拉克点电压小于反向扫描的狄拉克点电压;双向连续扫描时,第一次测试影响第二次的结果.以上现象表明了狄拉克点电压的大小和已扫描过的栅压大小有关.我们把上述的特点归因于电子注入到氧化铪表面的陷阱中.这些现象的发现和解释对石墨烯器件的可靠性,石墨烯导电特性的控制,石墨烯电路的实现有明显的参考意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王刚	电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室	35	209	9.0	13.0
2	李平	电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室	144	1645	22.0	36.0
3	曾荣周	电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室	6	13	2.0	3.0
4	张庆伟	电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室	3	5	2.0	2.0
5	王恒	电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室	4	6	2.0	2.0
6	周金浩	电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室	1	2	1.0	1.0