基于熵的磁瓦内表面起级缺陷检测与识别

• 作者: 徐光明
• 来源期刊: 数字技术与应用
• 学科: 工学
• 关键词: 磁瓦 起级缺陷 缺陷识别 纹理分析
• 年，卷（期）: 2011,（12）
• 所属期刊栏目: 学术论坛
• 页码范围: 176-177
• 分类号: TP391
• 字数: 1858字
• 语种: 中文

摘要

本文使用空域统计方法对纹理缺陷进行识别。首先锐化和增强缺陷图像。其次,应用熵原理计算基于局部范围的图像熵值矩阵,使用纹理基元对图像进行卷积运算,获得卷积矩阵;阈值二值化处理。对预处理图像进行轮廓跟踪,提取相关缺陷特征。根据给定的阈值进行缺陷检测和识别。通过MATLAB仿真实验验证,该方法能够稳定高效地对磁瓦内表面起级缺陷进行检测和识别。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	徐光明	广东培正学院计算机科学与工程系	10	10	2.0	3.0