电荷耦合器件在电子束参数测量中的损伤问题

• 作者: 张开志 李成刚 江孝国 王远 禹海军
• 来源期刊: 信息与电子工程
• 学科: 工学
• 关键词: 电子束测量 电荷耦合器件图像传感器 激光干扰 损伤阈值
• 年，卷（期）: 2012,（2）
• 所属期刊栏目: 微光机电与物理电子技术
• 页码范围: 217-220
• 分类号: TN911.6
• 字数: 2691字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-2892.2012.02.021

摘要

针对直线感应电子加速器(LIA)实验束参数测量技术应用过程中,电荷耦合器件(CCD)在纳秒激光辐照下工作的损伤效应方面进行研究.在分析 CCD 感光成像原理及其高能粒子测量应用的基础上,通过监测这种辐射下 CCD 输出信号的变化和实验后 CCD 的成像,对 CCD 中发生的软、硬损伤进行探讨,得到 CCD 能量损伤阈值的光子的响应特性和辐射损伤评估,保证了加速器束参数测量的可靠性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	禹海军	中国工程物理研究院流体物理研究所	33	69	5.0	6.0
2	王远	中国工程物理研究院流体物理研究所	67	188	8.0	11.0
3	江孝国	中国工程物理研究院流体物理研究所	66	434	11.0	18.0
4	李成刚	中国工程物理研究院流体物理研究所	16	88	5.0	9.0
5	张开志	中国工程物理研究院流体物理研究所	58	238	8.0	12.0