基于N-on-P结构的背照射延伸波长640×1线列InGaAs探测器

• 作者: 唐恒敬 张永刚 朱耀明 李永富 李雪 邓洪海 邵秀梅 陈郁 魏鹏 龚海梅
• 来源期刊: 红外与毫米波学报
• 学科: 工学
• 关键词: ICP刻蚀 N-on-P结构 线列探测器 光电性能
• 年，卷（期）: 2012,（1）
• 页码范围: 11-14,90
• 分类号: TN21
• 字数: 1653字
• 语种: 中文

摘要

在N-on-P型In0.78Al0.22As/In0.78Ga0.22As外延材料上,采用感应耦合等离子体(ICP)刻蚀技术制备了背照射640×1线列InGaAs探测器芯片,研究了探测器光电性能.结果表明,室温下单元器件响应截止波长和峰值波长分别为2.36 μm和1.92 μm,平均优值因子(R0A)为16.0Ω·cm2,峰值量子效率达到了37.5％；在1 ms积分时间下焦平面探测器平均峰值探测率达到了2.01×1011 cmHz1/2/W,响应非均匀性为8.77％,盲元率约为0.6％.