Au/SiO_2纳米复合薄膜的结构表征及光致发光特性

• 作者: 张晓森 彭瑞芹 李玉国 翟冠楠 郑学垒
• 来源期刊: 半导体光电
• 学科: 物理学
• 关键词: Au/SiO2 纳米复合薄膜 磁控溅射 光致发光
• 年，卷（期）: 2012,（1）
• 所属期刊栏目: 材料、结构及工艺
• 页码范围: 45-48
• 分类号: O484.41
• 语种: 中文

摘要

采用磁控溅射和退火技术制备出Au/SiO2纳米复合薄膜。利用扫描电子显微镜（SEM）,X射线衍射（XRD）和原子力显微镜（AFM）对上述纳米复合薄膜进行了结构表征。实验结果表明,纳米复合薄膜的表面上均匀分布着直径在100～300nm的金纳米颗粒。金纳米颗粒的大小随着退火时间的增加而增大。用荧光光谱仪（PL）对薄膜的光致发光特性进行了研究。结果表明,在激发波长为325nm时,分别在525nm和560nm处出现两个发光峰;在激发波长为250nm时,在325nm处出现发光峰,这一发光峰可能与非晶SiO2的结构缺陷有关。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李玉国	山东师范大学物理与电子科学学院半导体研究所	44	186	7.0	11.0
2	翟冠楠	山东师范大学物理与电子科学学院半导体研究所	4	10	2.0	3.0
3	张晓森	山东师范大学物理与电子科学学院半导体研究所	4	10	2.0	3.0
4	郑学垒	山东师范大学物理与电子科学学院半导体研究所	3	3	1.0	1.0
5	彭瑞芹	山东师范大学物理与电子科学学院半导体研究所	2	2	1.0	1.0