半导体芯片测试成本降低方案

• 作者: 李华
• 来源期刊: 电子世界
• 学科: 工学
• 关键词: 电子产品 芯片 测试平台(V50,J750) 成本降低
• 年，卷（期）: 2012,（12）
• 所属期刊栏目: 电子技术
• 页码范围: 32-33
• 分类号: TN407
• 字数: 1281字
• 语种: 中文

摘要

随着电子产品日新月异的发展,在产品品质提高同时,产品价格的下降也越来越被消费者重视.为了降低电子产品的价格,首先需要降低核心芯片的生产成本.测试费用是生产成本的重要组成,其中测试平台的成本直接影响测试费用.本文着重叙述如何用低成本测试平台(v50)实现高成本测试平台(J750)的功能,进而实现测试成本的降低.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李华		1	2	1.0	1.0