宇航元器件应用验证质量风险管理

• 作者: 何桢 尹洁 张大刚 施亮星 韩水珍
• 来源期刊: 中国质量
• 年，卷（期）: 2012,（5）
• 所属期刊栏目: 研究与探讨
• 页码范围: 50-52
• 页数: 3页
• 语种: 中文

摘要

随着我国航天事业的迅速发展,对宇航元器件的需求日益增大;以往依赖进口的宇航元器件要逐步国产化,随之而来的要求是开展宇航元器件应用验证.宇航元器件应用验证是对元器件在宇航工程应用前开展的一系列试验、评估和综合评价工作,以确定产品的成熟度和在宇航工程中应用的适用度、可用度;应用验证是元器件从研制走向型号应用的桥梁,对其在型号中持续、安全、可靠使用起着保障作用.应用验证过程具有需求调研要求高、质量管理流程复杂、涉及领域单位众多等特点,由此所产生的风险势必对其结果的成熟度、可用度和适用度产生影响.基于这一点,我们应当对应用验证过程质量风险进行分析研究,使不良影响能够得到消除或降至最低.