一个拓展的基于相似性的剩余寿命预测框架

• 作者: 尤明懿
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 故障预测 剩余寿命 相似性
• 年，卷（期）: 2012,（3）
• 所属期刊栏目: 可靠性预计与分配
• 页码范围: 40-48
• 分类号: TB114.3|O242
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2012.03.009

摘要

基于相似性的剩余寿命预测方法是近年来兴起的一类部件剩余寿命预测方法,它可以提供合理的剩余寿命预测同时无需进行衰退过程建模(或仅需少量的相关工作).针对当前基于相似性的剩余寿命预测方法仅利用失效的历史样本的问题,提出一个基于相似性的剩余寿命预测框架,同时利用失效与未失效(由于预防维护或终止使用等)的历史样本.在该框架中,提出两种估计未失效历史样本寿命,进而利用其衰退过程信息的方案(记为方案A和方案B).一个系统的数值试验验证了在存在有限失效历史样本与存在大量失效历史样本的情况下,基于方案A的框架始终优于对应的传统方法.此外,试验结果揭示基于方案B的框架在失效历史样本有限的情况下并不有效,但随着失效历史样本的增多其表现迅速提升.数值试验的发现建议,在失效历史样本有限的情况下使用基于方案A的框架,而在可用大量失效历史样本时使用基于方案B的框架.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	尤明懿	上海交通大学机械系统与振动国家重点实验室	9	27	3.0	5.0