应用系统级ATE测试增进IC设计验证效率

• 作者: 宋文晶 陈宰曼
• 来源期刊: 电子工业专用设备
• 学科: 工学
• 关键词: 系统级测试 协议识别 设计验证
• 年，卷（期）: 2012,（3）
• 所属期刊栏目: 测试测量技术与设备
• 页码范围: 20-23,35
• 页数: 5页
• 分类号: TN407
• 字数: 502字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-4507.2012.03.007

摘要

在IC设计周期内尽早发现问题，对于保证项目在预算内按时完成是至关重要的。大多数设计公司目前的通用方法是利用分立仪器，如示波器、频谱分析仪等，连接至一块评估板．并连至PC机，搭建一个系统级验证系统。这样的系统比较易于搭建．但相对缺乏大量数据的分析处理能力，且通常需手动测试。另一方面，ATE在数据采集及分析处理方面具有非常强大的能力。例如SHM00及自动测试。但通常ATE是在芯片级的自动化测试量产中大量应用．利用ATE进行系统级的测试并不容易。这里介绍一种新的方法，简化ATE上的协议通信设置．使得ATE能够在系统级测试中方便地应用，不增加测试成本，而且大大简化了ATE上的测试程序开发。应用此方案．设计及验证工程师可以协同工作，在短时间内搭建一个基于ATE平台的系统级的测试环境．充分利用ATE强大的数据采集，分析能力，更快更有效地进行芯片的测试验证。从而赢得上市时间。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	宋文晶		1	0	0.0	0.0
2	陈宰曼		1	0	0.0	0.0