地址数据复用型Flash存储器测试技术研究

• 作者: 王续朝
• 来源期刊: 电子测试
• 学科: 工学
• 关键词: 存储器测试 Flash 测试方法
• 年，卷（期）: 2012,（10）
• 所属期刊栏目: =设计与研发
• 页码范围: 17-22
• 页数: 6页
• 分类号: TN40
• 字数: 2100字
• 语种: 中文

摘要

随着半导体技术的迅猛发展,移动存储设备快速增长。Flash芯片作为移动存储设备中最常用的器件,得到了日趋广泛的应用,对Flash芯片的测试要求也越来越高。地址数据复用型Flash存储器测试技术研究及电路设计,设计改善大规模数字集成电路测试系统数字系统算法图形功能。对K9F2G08R0A进行了测试并通过对数字系统算法图形功能进行改善,算法图形发生器由多个算术逻辑单元、多路选择器以及操作寄存器组成,可以实现复杂的逻辑操作和算术运算,可以更快、更简便地对地址复用型Flash存储器进行测试,减少测试程序开发难度。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王续朝		1	3	1.0	1.0