基于FPGA的SIFT特征点检测

• 作者: 何文浩 原魁 柴晓杰 肖晗
• 来源期刊: 高技术通讯
• 学科: 工学
• 关键词: 尺度不变特征转换(SIFT) 现场可编程门阵列(FPGA) 特征点检测 机器视觉 硬件计算
• 年，卷（期）: 2012,（4）
• 所属期刊栏目: 先进制造与自动化技术
• 页码范围: 429-435
• 分类号: TP391
• 字数: 5061字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3772/j.issn.1002-0470.2012.04.015

摘要

为了在现场可编程门阵列(FPGA)中用硬件电路实现尺度不变特征转换(SIFT)特征点的实时检测,对原算法进行了改进,提出了一种基于面密度插值法和双重极值点约束的新方法.该方法显著提升了SIFT特征点的尺度不变性,同时有利于提高定点数的计算精度.在此基础上,设计了一种高效率的硬件计算方案,将所有的计算步骤都实现在了流水线结构中,并在FPGA上完成了开发工作.与现有研究成果相比,这种高效的方案非常节约硬件资源,大大降低了硬件成本,同时又大幅度提高了计算精度.系统能够在采集图像的同时完成特征点的检测.对于360×288大小的图像,其理论最高处理能力为303帧/秒；由于受到摄像头的图像采集速度限制,目前的实际处理速度是25帧/秒.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	原魁	中国科学院自动化研究所	58	1445	21.0	36.0
2	肖晗	中国科学院自动化研究所	5	126	5.0	5.0
3	何文浩	中国科学院自动化研究所	6	111	5.0	6.0
4	柴晓杰	中国科学院自动化研究所	2	38	2.0	2.0