基于SDSoC的SIFT特征点检测

• 作者: 张波 韩俊刚
• 来源期刊: 计算机技术与发展
• 学科: 工学
• 关键词: SIFT SDSoC 软硬件协同 FPGA
• 年，卷（期）: 2016,（12）
• 所属期刊栏目: 智能、算法、系统工程
• 页码范围: 103-106
• 页数: 4页
• 分类号: TP391
• 字数: 3615字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-629X.2016.12.023

摘要

为了在嵌入式机器视觉处理系统中能够快速提取图像的特征点，完成图像匹配与物体识别等操作，提出了一种在全可编程器件上实现的SIFT( Scale Invariant Feature Transform)算法。该算法使用SDSoC开发环境，采用PS( Processing Sys-tem)和PL( Programmable Logic)协同开发策略，通过流水线优化、软硬件并行和重构算法顺序等方法对算法进行优化。对多幅QVGA分辨率图像进行了处理，结果表明软硬件协同开发的策略能够有效提高算法性能，同时能保留较多特征点。该算法生成的特征点在尺度变换、旋转和缩放的情况下均能得到良好的匹配效果。与现有使用软件实现的SIFT方案相比，具有一定的实时性，满足了在嵌入式领域的应用需求。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	韩俊刚	西安邮电大学计算机学院	113	703	14.0	20.0
2	张波	西安邮电大学计算机学院	5	4	1.0	1.0