可复用微处理器片上调试功能的设计与实现

• 作者: 侯朝焕 华斯亮 张铁军 王东辉 王琪 高瑛珂
• 来源期刊: 计算机辅助设计与图形学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 片上调试 可复用 数字信号处理器 单步
• 年，卷（期）: 2012,（10）
• 所属期刊栏目: VLSI设计与测试及电子设计自动化
• 页码范围: 1369-1374
• 分类号: TP368
• 字数: 4920字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-9775.2012.10.015

摘要

为了方便软件与应用系统的开发与调试,提出一种可复用的微处理器片上调试方法.通过设计通用的调试指令集和增加调试模块,并扩展处理器内核功能,实现了断点设置与取消、内核运行的流水级精确控制、内核资源访问、任意程序段运行中特殊事件的统计等片上调试功能.该方法已在自主研发的SuperV_EF01 DSP上实现.在CMOS 90 nm 工艺下的综合结果表明,新增的片上调试功能不影响SuperV_EF01 DSP的关键路径时序,而芯片总面积仅增加了3.87％.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	侯朝焕	中国科学院声学研究所数字系统集成实验室	156	1085	18.0	25.0
2	王琪	中国科学院声学研究所数字系统集成实验室	99	2228	24.0	44.0
6	张铁军	中国科学院声学研究所数字系统集成实验室	52	240	9.0	12.0
7	王东辉	中国科学院声学研究所数字系统集成实验室	63	370	10.0	17.0
8	华斯亮	中国科学院声学研究所数字系统集成实验室	8	24	3.0	4.0
9	高瑛珂	中国科学院声学研究所数字系统集成实验室	2	11	2.0	2.0