JJF1306-2011《X射线荧光镀层测厚仪校准规范》解读

• 作者: 朱小平
• 来源期刊: 中国计量
• 学科: 工学
• 关键词: 镀层厚度 X射线荧光 校准规范 测厚仪 量值传递体系 解读 质量体系认证 外资企业
• 年，卷（期）: 2012,（8）
• 所属期刊栏目: 技术篇
• 页码范围: 128-129
• 页数: 2页
• 分类号: TB9
• 字数: 2047字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-9364.2012.08.094

摘要

一、制定背景2000年前后,国内电子、通信行业的迅猛发展,带来电镀行业的广泛需求。应国际贸易和质量体系认证的需求,许多企业工厂纷纷购置了相关的镀层厚度检测仪器和设备,同时也带来镀层膜厚量值传递和溯源问题。当然,有些外资企业,通过仪器自带的标准器直接溯源到国外,而大部分企业部门,则处于自行封闭测量和不做量值溯源的状况,国家没有一个明确的量值传递体系,镀层膜厚的量值处于一种混乱的状态。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	朱小平		29	142	6.0	11.0