THS4271集成电路实验特性及其应用

• 作者: 彭玉峰 林思宏 赵越 金龙
• 来源期刊: 电子设计工程
• 学科: 工学
• 关键词: THS4271 集成运放 实验 应用
• 年，卷（期）: 2012,（8）
• 所属期刊栏目: 电力电子技术
• 页码范围: 160-162,170
• 页数: 4页
• 分类号: TN495
• 字数: 2135字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-6236.2012.08.059

摘要

以TI公司生产的集成运放THS4271为基础搭建实验测试电路,在定义的条件下实验,分别测量了运放的输入失调电压UIO,输入失调电流IIO,共模抑制比CMRR,开环差模放大倍数AUd等主要参数。同时对测量的数据对应的相应的参数进行了简单分析。基于THS4271的单位增益稳定,低失真,高压摆率等特性,举出几个应用实例,来说明其在某些工程领域有一定的应用价值,供今后的使用者参考。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	彭玉峰	河南师范大学物理与信息工程学院	57	305	8.0	15.0
2	赵越	河南师范大学物理与信息工程学院	7	11	3.0	3.0
3	林思宏	河南师范大学物理与信息工程学院	4	9	2.0	3.0
4	金龙	河南师范大学物理与信息工程学院	4	9	2.0	3.0