基于ROI互信息的电路板红外图像配准技术

• 作者: 曾佩佩 罗云林 郝建新
• 来源期刊: 红外技术
• 学科: 工学
• 关键词: 红外图像 相位一致性 区域增长 ROI 图像配准 互信息量
• 年，卷（期）: 2013,（9）
• 所属期刊栏目: 图像处理与仿真
• 页码范围: 555-559
• 页数: 5页
• 分类号: TP391.41
• 字数: 4071字
• 语种: 中文

摘要

电路板的红外图像配准是电路板红外图像故障检测系统中的重点研究内容，由于电路板红外图像背景区域灰度单调，元器件发热区域轮廓粗糙，且伴随着大片受环境影响的辐射区域，对配准精度和配准效率产生很大影响。结合这些特点，利用相位一致性提取电路板发热芯片轮廓，再将轮廓内的区域用区域增长法提取为电路板红外图像 ROI，基于 ROI 的图像配准不仅最大限度地保留了图像信息，又显著降低互信息运算量。实验表明：相对不进行ROI提取的图像配准算法，本文算法能够在保证配准精度的前提下大幅提高配准效率，具有一定的实用性和鲁棒性。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	罗云林	中国民航大学航空自动化学院	37	185	8.0	10.0
2	曾佩佩	中国民航大学航空自动化学院	9	33	4.0	5.0
3	郝建新	中国民航大学航空自动化学院	9	37	3.0	6.0