用于薄膜厚度均匀性监测的147Pm-β源设计

• 作者: 张洁 徐家云 王芳娜 陈秀莲
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 工学
• 关键词: 147Pm-β放射源 薄膜厚度均匀性测量 蒙特卡罗计算
• 年，卷（期）: 2013,（2）
• 页码范围: 202-206
• 页数: 5页
• 分类号: TL99
• 字数: 3554字
• 语种: 中文

摘要

β射线束已被广泛用于工业上纸张、铝箔等薄膜生产中厚度均匀性的在线监测,为提高监测的精细程度和准确度,需要用束斑小、强度高、含韧致辐射少的β粒子束.对此,采用蒙特卡罗EGS5程序,对147Pm-β源的结构和尺寸进行了优化模拟计算设计.在将源结构设计成由内向外依次为147Pm-β源、铝和铅屏蔽层的情况下,模拟计算结果表明:对一定横截面积的147Pm-β源芯,β束流强度随源芯厚度增加而增大,在厚度为25 mg/cm2时达到饱和；穿出β源屏蔽体的韧致辐射强度随铝和铅屏蔽层的增厚减小,当铝和铅层厚度分别大于0.3mm和0.8 mm时,辐射强度为最小.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	徐家云	四川大学物理科学与技术学院	48	252	8.0	14.0
2	张洁	四川大学物理科学与技术学院	98	377	10.0	16.0
3	陈秀莲	四川大学物理科学与技术学院	9	8	2.0	2.0
4	王芳娜	四川大学物理科学与技术学院	2	1	1.0	1.0