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摘要:
针对现行结构损伤检测方法仅考虑了环境和荷载对损伤的影响,未考虑传感器因时间和环境变化导致的性能退化从而严重影响损伤诊断率的问题,考虑到传感器性能退化的局部性及结构损伤的全局性,利用最小均方差估计与广义极似然比(GLRT)理论检测结构响应异常,结合统计质量控制图的控制指标超出界限的波动样式判断异常来源,并通过简支梁数值算例验证了本文提出的方法.研究结果表明:利用广义极似然比可以有效检测响应异常,利用控制图可以辨别响应异常来源;传感器性能退化导致控制指标超出界限的波动为非平稳波动,而损伤导致控制指标在一定范围内的波动为平稳波动.
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CMOS图像传感器
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内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 传感器性能退化与结构损伤响应异常区分研究
来源期刊 西南交通大学学报 学科 工学
关键词 传感器性能退化 高斯分布 损伤检测 广义极似然比(GLRT)
年,卷(期) 2013,(6) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 1024-1030
页数 7页 分类号 TU312.1
字数 4459字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.0258-2724.2013.06.009
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 姜绍飞 福州大学土木工程学院 72 345 10.0 16.0
2 麻胜兰 福州大学土木工程学院 10 7 2.0 2.0
3 翁柳青 福州大学土木工程学院 1 3 1.0 1.0
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2020(2)
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  • 二级引证文献(2)
研究主题发展历程
节点文献
传感器性能退化
高斯分布
损伤检测
广义极似然比(GLRT)
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
西南交通大学学报
双月刊
0258-2724
51-1277/U
大16开
四川省成都市二环路北一段
62-104
1954
chi
出版文献量(篇)
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