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摘要:
采用System Verilog语言设计了一种具有层次化结构的可重用验证平台,该平台能够产生各种随机、定向、错误测试向量,并提供功能覆盖率计算.将验证平台在Synopsys公司的VCS仿真工具上运行,并应用到包交换芯片的仿真验证中.仿真结果显示,新设计的验证平台能通过修改随机信号约束条件和产生随机信号的权重值,使芯片的功能覆盖率达到100%.
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内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 基于System Verilog的可重用验证平台
来源期刊 电子技术应用 学科 工学
关键词 System Verilog 验证 层次化 可重用
年,卷(期) 2013,(5) 所属期刊栏目 计算机技术与应用
研究方向 页码范围 128-131
页数 4页 分类号 TN492
字数 3367字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 蒋林 西安邮电大学研究生学院 85 264 8.0 10.0
2 李涛 西安邮电大学电子工程学院 66 277 9.0 13.0
3 山蕊 西安邮电大学电子工程学院 23 34 3.0 5.0
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研究主题发展历程
节点文献
System Verilog
验证
层次化
可重用
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子技术应用
月刊
0258-7998
11-2305/TN
大16开
北京海淀区清华东路25号
2-889
1975
chi
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