基于最优识别区间的变步长产品表面缺陷检测研究

• 作者: 孙宝华 徐青 杨志刚 韩跃平
• 来源期刊: 激光与光电子学进展
• 学科: 工学
• 关键词: 图像处理 缺陷检测 最优识别区间 变步长采样 尺度不变特征变换算法 折半查找法
• 年，卷（期）: 2013,（10）
• 所属期刊栏目: 图像处理
• 页码范围: 86-92
• 页数: 7页
• 分类号: TP391.41
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/LOP50.101001

摘要

为实现对产品表面多个待检区域准确快速的检测,在最优识别区间内采用变步长机制快速获取待测产品的周向方位图像序列,实现在有限方位下利用不完全数据对多个待识别区域的快速检测.首先通过相关度计算及投影法确定各待检区域的最优识别区间和旋转步长,其次采用尺度不变特征变换(SIFT)算法与折半查找法确定随机摆放的待检产品在标准库中的最优位置信息,最后通过相关度计算判别各区域有无缺陷.实验表明在保证检测准确率的前提下,基于最优识别区间的变步长方法比传统全周向固定步长检测平均可节省6.37s.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	韩跃平		30	46	4.0	5.0
2	杨志刚		7	11	2.0	2.0
3	孙宝华		5	13	2.0	3.0
4	徐青		8	17	3.0	4.0