基于粗糙集贝叶斯网络的电子产品设计缺陷评估模型

• 作者: 刘卫东 朱敏
• 来源期刊: 计算机应用研究
• 关键词: 粗糙集 设计缺陷 贝叶斯网络 简约 参数估计
• 年，卷（期）: 2013,（3）
• 所属期刊栏目: 算法研究探讨
• 页码范围: 706-711
• 页数: 6页
• 分类号: TP182
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-3695.2013.03.016

摘要

为了对电子产品设计缺陷进行评估与预测, 需要构建电子产品设计缺陷粗糙集数学描述模型。由于电子产品设计缺陷影响因素关系复杂, 直接构造贝叶斯网络预测模型困难大、精度差, 因此提出一种贝叶斯网络与粗糙集相结合的方法。采用粗糙集来生成贝叶斯网络预测模型的网络结构和各节点的条件概率表, 再通过贝叶斯网络的参数估计建立电子产品设计缺陷的预测模型。实际应用证明, 该方法简洁有效, 可以预测项目可能存在的设计缺陷。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	朱敏	南昌大学软件学院	31	69	5.0	7.0
2	刘卫东	南昌大学机电工程学院	85	594	12.0	20.0