弱磁场激励下基于阵列磁传感器的缺陷检测方法

• 作者: 于霞 张刘杨 张卫民 邱勇
• 来源期刊: 北京理工大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 弱磁场激励 巨磁阻 阵列传感器 小波分析 缺陷检测
• 年，卷（期）: 2014,（5）
• 所属期刊栏目: 机械工程
• 页码范围: 460-463,469
• 分类号: TG115.28
• 语种: 中文

摘要

研究在弱磁场激励条件下,铁磁性材料试件16MnR在动载荷拉伸实验中的损伤检测问题.基于巨磁阻芯片设计了新型阵列磁传感器,搭建了铁磁构件磁信号检测系统;对不同载荷循环阶段的试件表面磁信号进行了拾取,并利用小波变换有效地抑制了噪声干扰.最后,对降噪后的磁信号进行C扫描成像,实现了弱磁场激励下试件损伤发展过程的磁信号成像显示.该结果可为铁磁性试件疲劳损伤的在位检测提供一种新型检测方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张卫民	北京理工大学机械与车辆学院	74	772	14.0	24.0
2	于霞	北京理工大学机械与车辆学院	9	85	6.0	9.0
3	张刘杨	北京理工大学机械与车辆学院	3	8	1.0	2.0
4	邱勇	北京理工大学机械与车辆学院	3	10	2.0	3.0