塑封电子器件负极端变色原因分析

• 作者: 丁丽 李雨辰 蔺娴
• 来源期刊: 真空电子技术
• 学科: 工学
• 关键词: 光电子能谱 塑封料 氧化铝 迁移
• 年，卷（期）: 2014,（5）
• 所属期刊栏目: 电子陶瓷、陶瓷-金属封接专辑
• 页码范围: 81-83
• 页数: 3页
• 分类号: TB756
• 字数: 2121字
• 语种: 中文

摘要

利用X-RAY光电子能谱仪对125°下,通电15 kV,96 h后负极一端出现白色物质的塑封电容器进行分析.对比分析发现,负极一端白色物质为氧化铝富集所致.造成该现象的原因是,环氧塑封料中含有活性氧化铝,由于固化不完全或吸潮导致环氧塑封料中残留水分,残留的水分与活性氧化铝结合,在电应力的作用下,有向电源负极迁移的趋势;同时,由于温度效应的存在,塑封树脂软化,加速了水分与活性氧化铝向电源负极迁移的速度,形成了氧化铝在负极端富聚现象,使电容器负极端呈现白色.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蔺娴	中国电子科技集团公司第四十六研究所	5	4	1.0	2.0
2	丁丽	中国电子科技集团公司第四十六研究所	6	72	2.0	6.0
3	李雨辰	中国电子科技集团公司第四十六研究所	6	14	3.0	3.0