基于ContourletⅡKPCA-Krawtchouk矩的印章图像配准

• 作者: 万水龙 余彪 刘进
• 来源期刊: 微型机与应用
• 学科: 工学
• 关键词: 印章图像 图像配准 Contourlet 变换 KPCA Krawtchouk矩 混沌粒子群
• 年，卷（期）: 2014,（4）
• 所属期刊栏目: 技术与方法
• 页码范围: 81-83,86
• 页数: 4页
• 分类号: TN911.73
• 字数: 2487字
• 语种: 中文

摘要

提出了一种基于 Contourlet Ⅱ KPCA-Krawtchouk 矩的印章图像配准算法。首先对印章图像进行 Contourlet 分解并提取低频分量，然后利用 KPCA 提取低频分量的主成分，并计算其 Krawtchouk 矩不变量，构成描述关键点的特征向量，最后计算关键点特征向量之间的欧氏距离找出相匹配的关键点对。采用 Logistic 映射混沌粒子群算法寻找最优阈值，大大加快了算法运行速度。实验结果表明，该算法不仅配准结果精确，且运行时间明显减少。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	余彪		1	0	0.0	0.0