Sb80Bi20光学非线性纳米薄膜的超分辨效应

• 作者: 吴谊群 张奎 王阳 翟凤潇
• 来源期刊: 中国激光
• 学科: 物理学
• 关键词: 薄膜 Sb80Bi20薄膜 超分辨效应 Z扫描测量 光学非线性
• 年，卷（期）: 2014,（7）
• 所属期刊栏目: 薄膜
• 页码范围: 171-176
• 页数: 6页
• 分类号: O484.4
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/CJL201441.0707002

摘要

利用Z-扫描测试技术研究了低功率下Sb80 Bi20纳米薄膜的非线性光学特性,并利用椭圆偏振光谱仪测量了薄膜光学常数及椭偏参数.实验结果表明Sb80 Bi20薄膜具有较大的饱和非线性光学吸收,非线性系数约为-0.018 m/W,而非线性折射率效应却不明显.Sb80 Bi20纳米薄膜的超分辨效应主要在于具有大的非线性吸收系数.理论计算表明35 nm厚薄膜可使高斯光束半径缩小大约10％.因此Sb80 Bi20薄膜有望用于近场超分辨结构.