工作曲线法和偏最小二乘回归分析在XRF定量分析软玉样品中的应用

• 作者: 刘松 干福熹 李青会 苏伯民
• 来源期刊: 光谱学与光谱分析
• 学科: 工学
• 关键词: X射线荧光光谱分析技术 工作曲线 偏最小二乘回归分析 软玉
• 年，卷（期）: 2015,（1）
• 页码范围: 245-251
• 页数: 7页
• 分类号: TL99|TQ17
• 字数: 3532字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3964/j.issn.1000-0593(2015)01-0245-07

摘要

由于块状固体标准玉石样品的缺乏，造成了便携式X射线荧光分析技术（pXRF）利用工作曲线法对玉石文物样品进行无损定量分析的困难。试图寻找一种pXRF可采用，但不需要块状固体玉石标准样品的定量分析方法。选取24件软玉样品，其中17件为校准样品，7件为测试样品。所有软玉样品利用质子激发X射线荧光分析技术（PIXE）获得定量分析结果。根据校准软玉样品的 PIXE定量分析结果建立兴趣元素的工作曲线，利用工作曲线对测试软玉样品进行定量分析；然后，利用pXRF对所有软玉样品进行定性分析，获得其定性分析图谱，利用校准软玉样品的定性分析图谱和PIXE定量分析结果，采用最小偏二乘法对测试软玉样品兴趣元素含量进行分析。最后，将工作曲线法、PLS方法和 PIXE的定量分析结果进行了相互对比。通过误差分析，评估了工作曲线法和PLS方法定量分析软玉样品的精确度。结果表明，PLS方法可以代替工作曲线法对玉石类样品进行定量分析。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	干福熹	中国科学院上海光学精密机械研究所科技考古中心	288	2527	23.0	29.0
2	李青会	中国科学院上海光学精密机械研究所科技考古中心	64	410	12.0	16.0
3	刘松	中国科学院上海光学精密机械研究所科技考古中心	50	392	11.0	18.0